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比表面測(cè)試儀
202A-比表面儀孔徑分析儀
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產(chǎn)品分類(lèi)比表面積孔徑測(cè)試分析檢測(cè)儀器借助于氣體吸附原理(典型為氮?dú)猓?,吸附、脫附等溫線(xiàn)測(cè)定。單點(diǎn)和多點(diǎn)BET比表面積。Langmuir比表面積測(cè)定。粒度估算和真密度測(cè)試、孔隙率及孔隙度分析。BJH介孔、大孔分析。t-plots圖法微孔分析,以及外表面積測(cè)定。as-plots微孔總面積。MP法微孔分析。
Langmuir比表面積及孔徑測(cè)試儀借助于氣體吸附原理(典型為氮?dú)猓?,吸附、脫附等溫線(xiàn)測(cè)定。單點(diǎn)和多點(diǎn)BET比表面積。Langmuir比表面積測(cè)定。粒度估算和真密度測(cè)試、孔隙率及孔隙度分析。BJH介孔、大孔分析。t-plots圖法微孔分析,以及外表面積測(cè)定。as-plots微孔總面積。MP法微孔分析。
BET比表面積及孔徑測(cè)試儀借助于氣體吸附原理(典型為氮?dú)猓?,吸附、脫附等溫線(xiàn)測(cè)定。單點(diǎn)和多點(diǎn)BET比表面積。Langmuir比表面積測(cè)定。粒度估算和真密度測(cè)試、孔隙率及孔隙度分析。BJH介孔、大孔分析。t-plots圖法微孔分析,以及外表面積測(cè)定。as-plots微孔總面積。MP法微孔分析。
微孔分析 比表面積及孔徑測(cè)試儀借助于氣體吸附原理(典型為氮?dú)猓?、脫附等溫線(xiàn)測(cè)定。單點(diǎn)和多點(diǎn)BET比表面積。Langmuir比表面積測(cè)定。粒度估算和真密度測(cè)試、孔隙率及孔隙度分析。BJH介孔、大孔分析。t-plots圖法微孔分析,以及外表面積測(cè)定。as-plots微孔總面積。MP法微孔分析。
as-plots微孔分析比表面積及孔徑測(cè)試儀借助于氣體吸附原理(典型為氮?dú)猓?,吸附、脫附等溫線(xiàn)測(cè)定。單點(diǎn)和多點(diǎn)BET比表面積。Langmuir比表面積測(cè)定。粒度估算和真密度測(cè)試、孔隙率及孔隙度分析。BJH介孔、大孔分析。t-plots圖法微孔分析,以及外表面積測(cè)定。as-plots微孔總面積。MP法微孔分析。